

高频微米分辨率测厚仪
型号:72DL_PLUS
产品特点
超高频测量能力:支持20-125 MHz探头频率,最小分辨率可达0.25 μm,可精准测量超薄材料及多层结构; 多层同时测量:多层测量软件可同时显示最多6层独立厚度,每层可单独设置材料参数与报警阈值; 坚固便携设计:IP65防护等级,通过MIL-STD-810G军标跌落测试,-10°C至50°C宽温工作,重量仅2.08 kg; 智能数据管理:2 GB内置存储,支持PC机接口应用程序、无线局域网、蓝牙及奥林巴斯科学云(OSC)连接; 高效测量性能:测量速率最高达2 kHz,60 Hz A扫描刷新率,数字滤波器优化信噪比; 直观用户界面:177.8 mm WVGA全彩触摸屏,宽广视角,支持A/B扫描、趋势图、放大图等多种布局。
应用场景
航空航天复合材料漆层检测:精准测量碳纤维复合材料表面多层涂漆厚度,确保防腐与隐身涂层质量;
医疗器械薄壁管材测量:对医用不锈钢、钛合金毛细管进行微米级壁厚检测,保障植入器械安全性;
汽车制造业涂层工艺控制:实时监控车身多层漆料(底漆、色漆、清漆)厚度,优化涂装工艺一致性;
精密电子零部件检测:测量半导体封装、连接器镀层及多层薄膜结构,满足微电子行业高精度质控需求。
72DL PLUS高频率微米分辨率测厚仪是一款专为超薄材料和多层材料测量设计的便携式超声测厚设备。该仪器支持20-125 MHz超高频率探头,可实现0.25微米级分辨率,能够同时测量多达6层独立材料的厚度,适用于漆料、塑料、金属涂层等复杂多层结构的精密检测。配备177.8毫米高分辨率触摸屏、多种测量布局(A扫描/B扫描/趋势图/放大图)以及"我的应用"快速配置功能,结合PC机接口应用程序和云端互联能力,为实验室级精度与工业现场耐用性的完美结合。
